VMU是一款具有國際品牌性能品質的全自動影像測量儀，凝聚了機械、控制、軟件等各相關領域最尖端的科研成果，提供全方位的測量方案，世界頂級的軟硬件配置，目前國內精度最高、性能最穩定、功能最強大。
基本參數
|
天準影像測量儀 TZTEK Video Measuring Machine |
|
|||
|
型號
|
行程（mm）
|
外部尺寸（mm） |
重量（kg）
|
承重（kg）
|
|
VMU322 |
300×200×200 |
1040×740×1620 |
250 |
25 |
|
測量精度
|
XY軸* |
Z軸** |
||
|
（1.5+L/300）μm |
（5.0+L/200）μm |
|||
|
*L表示測量長度，以毫米為單位 **Z軸的機械精度，聚焦的精度與工件表面有很大關系
|
||||
|
速度
|
XY軸 |
Z軸 |
||
|
500mm/s |
100mm/s |
|||
|
工作環境
|
溫度：20℃±2℃ 溫度變化：<2℃/hr 濕度：30～80% |
|||
|
振動：＜0.002g，＜15Hz |
||||
|
電源：200~240Vac，50/60Hz，單相single-phase，700W |
||||
配置清單
|
序號 No. |
名稱
|
分項名稱
|
規格及主要技術參數
|
|
1 |
機械本體
|
主機 |
影像測量系統, 四軸CNC控制
|
|
2 |
機械結構 |
三軸花崗巖主體結構，物理性能穩定
|
|
|
3 |
光柵尺 |
0.1μm Renishaw光柵尺
|
|
|
4 |
導軌 |
THK精密線性滑軌
|
|
|
5 |
電機
|
直流伺服電機
|
|
|
6 |
光學系統
|
攝像機
|
1/2"CCD彩色工業攝像機
|
|
7 |
鏡頭
|
12.5:1自動變倍鏡頭
|
|
|
8 |
放大倍率
|
光學放大倍率：0.6～7.5X 影像放大倍率：18～230X
|
|
|
9 |
表面光
|
可升降表面光，6環8區LED冷光源，256級亮度可調
|
|
|
10 |
輪廓光
|
LED冷光源，256級亮度可調
|
|
|
11 |
同軸光
|
LED冷光源，256級亮度可調
|
|
|
12 |
軟件系統
|
Vispec 測量軟件
|
VMU版
|
|
13 |
電控系統
|
天準?電控系統
|
VMU版 |
|
14 |
操作手柄
|
天準影像測量儀專用手柄
|
|
|
15 |
附件
|
操作電腦
|
品牌電腦
|
|
16 |
工作臺
|
天準特制工作臺
|
|
|
17 |
出廠合格證
|
|
|
|
18 |
軟件光盤
|
軟件光盤一張
|
|
|
19 |
|
|
儀器特點
超精密全自動測量，四軸CNC控制。
精密花崗巖機臺，精度高、穩定性好。
三軸THK精密線性滑軌、精密傳動系統。
Renishaw開放式光柵尺，精度高、穩定性好。
自動變倍光學鏡頭，可實現自動變倍測量。
可程控6環8區環形表面光源，LED輪廓光源，同軸光源。
自動對焦測高，可加裝接觸式測頭。
可程控升降和調整角度的表面光系統，分外3環和內3環獨立控制，提高原68光源的打光性能。并且支持擴展外置光源。
軟件系統
基本測量功能
可測幾何量：點、線、圓（最大、最小和平均）、弧、樣條曲線、橢圓、矩形、四邊形、槽、R角、環、間距、距離、點群等。
構建：中心點、極值點、端點、交點、兩點連線、平行線、垂線、切線、平分線、中心線、合并、輪廓分割、半徑畫圓、三線內切圓、兩線半徑內切圓等。
影像量測工具：繪圖點、最近邊緣點、聚焦點、圓形框取點、最佳邊緣點、最近點、整體提取、多段提取、紋理分割、多段紋理分割、電子卡尺、快速整理取圓、開放輪廓線、最大閉合輪廓線、最近閉合輪廓線。
形位公差：直線度、圓度、位置度、平行度、垂直度、傾斜度、同心度等。
坐標系：夾具定位坐標系、點線、兩點X、兩點Y、三點、兩線、圖像配準坐標系；平移、旋轉、手工調整坐標系。
編程與自動化操作
可生成任務進行全自動批量測量，并支持自動和手工交互操作。
自動鏡頭變倍（軟件控制），變倍后無需重新校正。
光源實現自動控制，支持自動打光。
支持同軸光、表面光六環八區、輪廓光的各區段自動控制。
可快速自動聚焦，聚焦測量高度。
輸出及數據統計
可輸出Word、Excel、HTML、TXT報表和AutoCAD文件。
支持實時輸出至excel模版，可定制模版。
可以只輸出最后一次任務運行的數據。
運行任務時自動生成.rst格式文件，記錄任務運行的詳細信息。
運行完打印：任務運行完直接打印。
輸出任務數據到文件：輸出任務運行結果至文本中，同名任務的數據輸出至同文件。
可按指定目錄，根據任務名稱自動輸出任務結果至csv文本中，便于同種工件結果的統一分析。
SPC統計功能，導入rst文件，可進行有效的品管控制。
基元屬性區域，實時顯示當前正在測量的基元數據。
基元超差區，分類顯示正常基元，超差基元，未測量基元等等。